Araştırma: İlk kez tek bir atom, X-ışınıyla gözlemlendi

Araştırma: İlk kez tek bir atom, X-ışınıyla gözlemlendi

SciTech Daily’nin haberine göre, ekip, birer demir ve terbiyum atomu seçerek, Senkrotron X-ışını Taramalı Tünelleme Mikroskobu (SX-STM) olarak bilinen öncü bir teknik kullanarak atomları tek tek tanımladı.

SX-STM, X-ışını ile uyarılmış elektronları toplamak için numuneye aşırı yakın konumlandırılmış keskin bir metal uçtan oluşuyor. Araştırmaya ilişkin açıklamalarda bulunan baş araştırmacı Prof. Swa Wai Hla, yürütülen çalışmanın, çevresel, tıbbi ve kuantum araştırmalarında yeni keşiflerin önünü açacağına işaret etti. Söz konusu çalışmanın, “insanlığın kaderini değiştirecek” önemli bir potansiyele sahip olduğunu kaydeden Swa, “Bu buluş dünyayı değiştirecek.” ifadesini kullandı. Swa, atomların, Taramalı Sondalı Mikroskoplarla (SPM) gözlemlenebildiğini ancak bu atomların, X-ışını olmadan kimyasal yapılarının tespit edilemediğini kaydetti. Tek bir atomun X-ışınıyla gözlemlendiği çalışmanın amacının, nano ve kuantum bilimlerine odaklanırken tek bir nadir toprak atomu üzerindeki çevresel etkinin araştırılması olduğu vurgulandı. Araştırma, “Nature” dergisinde yayımlandı.

Bir cevap yazın

E-posta hesabınız yayımlanmayacak. Gerekli alanlar * ile işaretlenmişlerdir